探索 UCI SECOM 数据

为了总结本章并巩固您对 bagging 的理解，现在来使用一个新数据集！该数据来自半导体制造流程，收集自 UCI Machine Learning Repository。

每一行代表一个生产实体。特征是来自传感器或流程各环节的测量值。标签表示该实体是否通过测试：通过为 1，未通过为 -1。

数据集已加载为 uci_secom，target 变量为 'Pass/Fail' 列。请使用 .value_counts() 和 .describe() 方法检查该变量。您观察到什么现象？