探索 UCI SECOM 資料

為了替本章做個總結並鞏固你對 bagging 的理解，現在要來處理一個新資料集！這份資料來自半導體製造流程，取自 UCI Machine Learning Repository。

每一列代表一個生產實體。特徵是來自感測器或製程節點的量測值。標籤代表該實體是否通過（1）或未通過（-1）測試。

資料集已載入為 uci_secom 並可供你使用。target 變數是 'Pass/Fail' 欄位。請使用 .value_counts() 與 .describe() 方法來檢查這個變數。你觀察到什麼？